10月16日，由深圳市中圖儀器股份有限公司承辦的坐標測量機技術(shù)交流會及GB/T 16857.5國家標準第三次討論會在深圳成功召開。本次會議匯聚了來自全國產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標準化技術(shù)委員會、中國計量科學(xué)研究院、中國科學(xué)院微電子研究所、合肥工業(yè)大學(xué)、英國國家未來計量實驗室、深圳市中圖儀器股份有限公司等單位的坐標測量技術(shù)領(lǐng)域的專家、學(xué)者及企業(yè)代表，旨在深入探討行業(yè)新技術(shù)動態(tài)，并對關(guān)鍵國家標準的技術(shù)內(nèi)容進行討論，為推動我國精密測量技術(shù)的規(guī)范化與高質(zhì)量發(fā)展注入新動能。

深化標準研討，夯實技術(shù)基石

會議議程內(nèi)容豐富而深入。與會專家、學(xué)者及企業(yè)代表就坐標測量機的前沿技術(shù)進行了廣泛交流，圍繞大尺度空間激光跟蹤測量技術(shù)及應(yīng)用、面向特定任務(wù)的坐標測量機溯源技術(shù)、微納米三坐標測量機等前沿話題，帶來最新的研究成果與產(chǎn)品介紹。通過各位嘉賓精彩的分享，我們不僅看到了技術(shù)發(fā)展的“精度"在不斷提升，更看到了其應(yīng)用“廣度"與“深度"的無限可能。

隨后，會議進入核心環(huán)節(jié)——對《GB/T 16857.5 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標測量系統(tǒng)(CMS)的驗收檢測和復(fù)檢檢測 第5部分：使用單探針或多探針、離散點和/或掃描測量模式的接觸式探測系統(tǒng)的坐標測量機》國家標準技術(shù)內(nèi)容進行第三次集中討論。

該標準是坐標測量機（CMM）領(lǐng)域至關(guān)重要的一項規(guī)范，它明確規(guī)定了采用接觸式探測系統(tǒng)（包括單探針、多探針以及離散點和掃描模式）的坐標測量機的驗收檢測與復(fù)檢檢測方法。隨著測量技術(shù)的飛速發(fā)展，多探針與高速掃描技術(shù)的應(yīng)用日益廣泛，對現(xiàn)有標準提出了新的要求。與會專家們就標準中的技術(shù)細節(jié)、檢測流程的嚴謹性、以及對新技術(shù)模式的適應(yīng)性等關(guān)鍵問題展開了熱烈而富有建設(shè)性的討論，為標準的進一步完善奠定了堅實的基礎(chǔ)。此次討論對于統(tǒng)一行業(yè)檢測基準、保障坐標測量機的精度與可靠性、促進裝備制造業(yè)的質(zhì)量提升具有深遠意義。

實地參觀交流，見證國產(chǎn)力量

當(dāng)天下午，與會代表們移步至中圖儀器展廳進行參觀交流。作為國產(chǎn)自主化三坐標測量機的代表性企業(yè)，中圖儀器向與會嘉賓全面展示了其在精密測量領(lǐng)域的最新研發(fā)成果與制造實力。展廳內(nèi)陳列的高性能三坐標測量機、激光跟蹤儀、非球面檢測輪廓儀、AI影像儀、閃測儀、白光干涉儀等核心產(chǎn)品，其測量精度、穩(wěn)定的性能表現(xiàn)以及先進的軟件系統(tǒng)，給參觀者留下了深刻印象。

通過實地觀摩與深入的技術(shù)交流，與會代表們親身感受到了中國在坐標測量裝備領(lǐng)域取得的突破性進展。中圖儀器在核心技術(shù)上的自主研發(fā)與創(chuàng)新，彰顯了“中國智造"在精密測量領(lǐng)域的強勁競爭力與巨大潛力。

本次技術(shù)交流會與國家標準的研討，不僅為行業(yè)內(nèi)的技術(shù)交流與合作搭建了平臺，更通過實地考察，增強了業(yè)界對國產(chǎn)坐標測量技術(shù)發(fā)展的信心。標準的完善與技術(shù)的創(chuàng)新相輔相成，此次會議的順利召開，標志著我國在坐標測量領(lǐng)域的標準化工作和產(chǎn)業(yè)自主化進程上又邁出了堅實的一步，必將有力地推動我國制造業(yè)向高質(zhì)量、高精度方向持續(xù)邁進。